NIKON XT V series x-ray systems are indispensable in the quality control of electronic components. These systems are dedicated to both production lines and qualified laboratories, where quality control is the highest priority. The devices are equipped with software modules tailored to the needs of X-ray inspection. The real-time manual inspection process can be fully automated to maximize efficiency on repetitive parts.

Seria XT V firmy NIKON Metrology obejmuje światowej klasy systemy rentgenowskie i tomografii przemysłowej do nieniszczącej inspekcji komponentów elektronicznych – płytek PCB, układów BGA, chipów i wielu innych. Dzięki rozpoznawaniu cech submikronowych system XT V spełnia dzisiejsze potrzeby w zakresie wysokowydajnej, nieniszczącej kontroli złożonych elementów elektronicznych.

NIKON Metrology’s Xi Nanotech radiation source in combination with industry-leading flat detectors provides best-in-class image quality for 2D and 3D inspection.