X.Tract

X.Tract (laminografia) zapewnia wyniki inspekcji porównywalne z tomografią komputerową  złożonych, wielowarstwowych elementów elektronicznych bez konieczności cięcia płytek. Podczas szybkiego i przyjaznego dla użytkownika procesu tworzone są wirtualne mikrosekcje w każdym kierunku w obszarze zainteresowania. X.Tract ujawnia wady niewidoczne warstwowanych elementów dla  dwuwymiarowych obrazów rentgenowskich.

Nowe oprogramowanie X.Track zapewnia w pełni zautomatyzowany proces przetwarzania obrazu i szczegółowe raportowanie.  Za pomocą X.Track użytkownik uzyskuje lepszy wgląd w złożone komponenty elektroniczne takie jak PoP ( Package on Package) oraz płytki dwuwarstwowe. Prowadzi to do zwiększenia produktywności systemu.

• Łatwa identyfikacja defektów w złożonych wielowarstwowych płytkach
• Obrazowanie przez element poprzez widok poszczególnych przekrojów 2D w każdym kierunku, ukazując wyizolowany czysty obraz
• Praca z małymi oraz dużymi płytkami i elementami elektronicznymi
• Automatyczna, szybka akwizycja, i uzyskiwanie obrazu w kilka minut
• Dostępne dla systemu XT V 160