X.Tract (laminografia) zapewnia wyniki inspekcji porównywalne z tomografią komputerową złożonych, wielowarstwowych elementów elektronicznych bez konieczności cięcia płytek. Podczas szybkiego i przyjaznego dla użytkownika procesu tworzone są wirtualne mikrosekcje w każdym kierunku w obszarze zainteresowania. X.Tract ujawnia wady niewidoczne warstwowanych elementów dla dwuwymiarowych obrazów rentgenowskich.
Nowe oprogramowanie X.Track zapewnia w pełni zautomatyzowany proces przetwarzania obrazu i szczegółowe raportowanie. Za pomocą X.Track użytkownik uzyskuje lepszy wgląd w złożone komponenty elektroniczne takie jak PoP ( Package on Package) oraz płytki dwuwarstwowe. Prowadzi to do zwiększenia produktywności systemu.
- Łatwa identyfikacja defektów w złożonych wielowarstwowych płytkach
- Obrazowanie przez element poprzez widok poszczególnych przekrojów 2D w każdym kierunku, ukazując wyizolowany czysty obraz
- Praca z małymi oraz dużymi płytkami i elementami elektronicznymi
- Automatyczna, szybka akwizycja, i uzyskiwanie obrazu w kilka minut
- Dostępne dla systemu XT V 160