Centrum Prezentacji
Doskonałość teraz i na przyszłość
ALTERA+ - dla klientów o większych wymaganiach dokładnościowych, LK Metrology oferuje wersję maszyny ALTERA o podwyższonej dokładności. Maszyny te nadają się zarówno do pomiarów stykowych – punktowych jak i skanujących oraz pomiarów bezstykowych przy użyciu skanerów laserowych.
Główne zalety:
- Zwiększona wydajność
- Wysokie prędkości / przyspieszenia dla zmniejszenie czasu pomiaru
- Doskonała dokładność i powtarzalność
- Kompleksowe rozwiązanie do pomiarów stykowych, skanowania analogowego i skanowania bezstykowego
|
Model |
Zakres pomiarowy (mm) |
Rozmiar całk. (mm) | Maks. waga części (kg) |
Waga maszyny (kg) |
||||
| X | Y | Z | L | W | H | |||
|
ALTERA 8.7.6 |
813 | 711 | 610 | 2083 | 1786 | 2702 | 800 | 1739 |
| ALTERA 10.7.6 | 1016 | 711 | 610 | 2286 | 1786 | 2702 | 1000 | 1968 |
| ALTERA 10.10.8 | 1524 | 711 | 600 | 2384 | 1460 | 2575 | 1025 | 2388 |
| ALTERA 15.10.8 | 1016 | 1016 | 813 | 1876 | 1765 | 2985 | 1750 | 3101 |
| ALTERA 20.10.8 | 1220 | 1016 | 813 | 2080 | 1765 | 2985 | 2050 | 4399 |
| ALTERA 25.10.8 | 1524 | 1016 | 813 | 2384 | 1765 | 2985 | 2100 | 5633 |
Specyfikacja techniczna
- PH10M Plus z SP25M
MPE_P = 1,5 µm
MPE_E = 1,5 + L / 375 µm
MPE_THP / czas = 2,2 µm / 59 sek.
- PH20
MPE_P = 1,5 µm
MPE_E = 1,5 + L / 375 µm
- PH10M Plus z LC15Dx
MPE_P = 2,8 µm
MPE_E = 5,5 + L / 375 µm
MPE_AL = 4,4 µm