lokalizacjaCentrum Prezentacji

Wydział Mechaniczny PK
al. Jana Pawła II 37  31-864 Kraków   

www.cp3d.pl

 

lokalizacjaBiuro i Centrum Prezentacji

ul. Kupiecka 11
03-046 Warszawa

 

X.Tract

X.Tract (laminografia) zapewnia wyniki inspekcji porównywalne z tomografią komputerową  złożonych, wielowarstwowych elementów elektronicznych bez konieczności cięcia płytek. Podczas szybkiego i przyjaznego dla użytkownika procesu tworzone są wirtualne mikrosekcje w każdym kierunku w obszarze zainteresowania. X.Tract ujawnia wady niewidoczne warstwowanych elementów dla  dwuwymiarowych obrazów rentgenowskich.

Nowe oprogramowanie X.Track zapewnia w pełni zautomatyzowany proces przetwarzania obrazu i szczegółowe raportowanie.  Za pomocą X.Track użytkownik uzyskuje lepszy wgląd w złożone komponenty elektroniczne takie jak PoP ( Package on Package) oraz płytki dwuwarstwowe. Prowadzi to do zwiększenia produktywności systemu.

  • Łatwa identyfikacja defektów w złożonych wielowarstwowych płytkach
  • Obrazowanie przez element poprzez widok poszczególnych przekrojów 2D w każdym kierunku, ukazując wyizolowany czysty obraz
  • Praca z małymi oraz dużymi płytkami i elementami elektronicznymi
  • Automatyczna, szybka akwizycja, i uzyskiwanie obrazu w kilka minut
  • Dostępne dla systemu XT V 160